Эллипсометрия нанокристаллических пленок VO$_2$, VO$_2$ : Mg, VO$_2$ : Ge

Эллипсометрическим методом измерены спектры показателя преломления $n(\lambda)$ и коэффициента экстинкции $k(\lambda)$ тонких пленок VO$_2$, VO$_2$ : Mg, VO$_2$ : Ge. Для нелегированной пленки VO$_2$ на длине волны $\lambda$ = 632.8 nm вблизи фазового перехода изолятор–металл исследованы петли термического гистерезиса $n(T)$ и $k(T)$. Дана интерпретация полученных результатов на основе соотношения Мосса и представления об изменении $n(T)$ и $k(T)$ при примесной вариации плотности материала, а также на основе идеологии о кулоновской трансформации функции плотности состояний в сильнокоррелированных материалах.