Фоторефракция и фотодвулучепреломление в пленках стеклообразных полупроводников

С помощью оригинальной методики, основанной на модуляции состояния поляризации излучения, проведено параллельное исследование явлений фоторефракции и фотодвулучепреломления в пленках стеклообразных полупроводников системы As$-$S. Показано различие механизмов возникновения этих явлений. Обнаружен и объяснен знакопеременный осциллирующий характер кинетики нарастания фотоиндуцировавной анизотропии пропускания (ФАП) длинноволнового света. Предложены интерференционные способы усиления ФАП и контраста пропускания в облученной и необлученных областях пленок.