Аннотация:
Приведены результаты исследования пограничного потенциального барьера и вакантных электронных состояний в энергетическом диапазоне от 5 до 20 eV выше уровня Ферми EF при осаждении на поверхность окисленного германия ((GeO2)Ge) пленок перилен-тетракарбонового диангидрида (PTCDA). Содержание окисла на поверхности (GeO2)Ge определяли методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. В экспериментах использовали методику регистрации отражения от поверхности тестирующего пучка низкоэнергетических электронов, реализованную в режиме спектроскопии полного тока. Теоретический анализ включал в себя расчет энергий и пространственного распределения орбиталей молекул PTCDA методом теории функционала плотности (DFT) с использованием функционала B3LYP в базисе 6–31G(d) и последующее масштабирование рассчитанных значений энергий орбиталей согласно процедуре, хорошо зарекомендовавшей себя при исследованиях малых сопряженных органических молекул. Исследована закономерность изменения тонкой структуры спектров полного тока в процессе увеличения толщины покрытия PTCDA на поверхности (GeO2)Ge до 6 nm. При энергиях ниже 9 eV над EF в пленке PTCDA расположен максимум плотности незаполненных электронных состояний, образованный преимущественно π∗ орбиталями молекул. Более высоколежащие максимумы плотности незаполненных состояний имеют σ∗ характер. Формирование пограничного потенциального барьера при осаждении PTCDA на поверхность (GeO2)Ge сопровождается увеличением работы выхода поверхности, Evac–EF от 4.6 ± 0.1 до 4.9 ± 0.1 eV. Это происходит при увеличении толщины покрытия PTCDA до 3 nm, а при дальнейшем осаждении PTCDA работа выхода поверхности практически не изменяется, что соответствует модели формирования ограниченного поляризационного слоя в осаждаемой органической пленке.
Образец цитирования:
А. С. Комолов, Э. Ф. Лазнева, Н. Б. Герасимова, Ю. А. Панина, А. В. Барамыгин, Г. Д. Зашихин, С. А. Пшеничнюк, “Структура вакантных электронных состояний поверхности окисленного германия при осаждении пленок перилен-тетракарбонового диангидрида”, Физика твердого тела, 58:2 (2016), 367–371; Phys. Solid State, 58:2 (2016), 377–381