|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1994 |
| 1. |
М. В. Высогорец, Н. Н. Митрофанова, А. В. Ненашев, Р. В. Серов, “Оптические измерения с помощью одномерного ПЗС-детектора”, Квантовая электроника, 21:1 (1994), 85–88  [M. V. Vysogorets, N. N. Mitrofanova, A. V. Nenashev, R. V. Serov, “Optical measurements with the aid of a one-dimensional CCD detector”, Quantum Electron., 24:1 (1994), 81–84  ] |
| 2. |
С. А. Абросимов, М. В. Высогорец, А. А. Малютин, А. В. Ненашев, Р. В. Серов, “Измеритель шероховатости поверхности в диапазоне 1–25 нм по индикатрисе рассеянного света”, Квантовая электроника, 21:1 (1994), 78–80 [S. A. Abrosimov, M. V. Vysogorets, A. A. Malyutin, A. V. Nenashev, R. V. Serov, “Surface roughness meter for the range 1–25 nm based on the scattered-light indicatrix”, Quantum Electron., 24:1 (1994), 75–77 ] |
2
|
|
Обратная связь: