|
Квантовая электроника, 1994, том 21, номер 1, страницы 78–80
(Mi qe6)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники
Измеритель шероховатости поверхности в диапазоне 1–25 нм по индикатрисе рассеянного света
С. А. Абросимов, М. В. Высогорец, А. А. Малютин, А. В. Ненашев, Р. В. Серов Институт общей физики АН РФ, г. Москва
Аннотация:
Описан прибор для определения шероховатости поверхностей, основанный на измерении индикатрисы рассеяния лазерного излучения. Возможности прибора продемонстрированы на основе измерений специальных тест-объектов шероховатости, зеркал алмазного точения и высококачественных полированных металлических поверхностей.
Поступила в редакцию: 09.04.1993
Образец цитирования:
С. А. Абросимов, М. В. Высогорец, А. А. Малютин, А. В. Ненашев, Р. В. Серов, “Измеритель шероховатости поверхности в диапазоне 1–25 нм по индикатрисе рассеянного света”, Квантовая электроника, 21:1 (1994), 78–80 [Quantum Electron., 24:1 (1994), 75–77]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe6 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v21/i1/p78
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 184 | PDF полного текста: | 105 |
|