|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2007 |
| 1. |
В. Ф. Дряхлушин, В. П. Вейко, Н. Б. Вознесенский, “Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и ближнепольные оптические зонды: свойства, изготовление и контроль параметров”, Квантовая электроника, 37:2 (2007), 193–203   [V. F. Dryakhlushin, V. P. Veiko, N. B. Voznesenskii, “Scanning near-field optical microscopy and near-field optical probes: properties, fabrication, and control of parameters”, Quantum Electron., 37:2 (2007), 193–203   ] |
5
|
|
1991 |
| 2. |
В. Ф. Дряхлушин, “Параметрическое усиление объемных и поверхностных электромагнитных
волн в тонком слое полупроводниковой сверхрешетки”, Физика и техника полупроводников, 25:2 (1991), 348–351 |
|
1987 |
| 3. |
В. Ф. Дряхлушин, “Неустойчивость поверхностных электромагнитных волн
в полупроводниковых сверхрешетках конечной толщины”, Физика и техника полупроводников, 21:9 (1987), 1681–1684 |
|
1986 |
| 4. |
В. Ф. Дряхлушин, Ю. А. Романов, “Усиление поверхностных волн в полупроводниках со сверхрешеткой”, Физика и техника полупроводников, 20:4 (1986), 696–700 |
|
Обратная связь: