|
Квантовая электроника, 2007, том 37, номер 2, страницы 193–203
(Mi qe8955)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Оптическая микроскопия
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и ближнепольные оптические зонды: свойства, изготовление и контроль параметров
В. Ф. Дряхлушин, В. П. Вейко, Н. Б. Вознесенский Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики
Аннотация:
Во введении приведен краткий обзор современных областей использования ближнепольных оптических (БО) устройств, и среди них БО микроскопии, спектроскопии и литографии. Обсуждается проблема создания БО зондов как наиболее важного элемента БО устройств, от которого зависит разрешение и эффективность БО приборов. На основе работ авторов детально рассмотрены два различных подхода к формированию БО зондов с использованием адиабатического утоньшения оптического волокна: механическая вытяжка при лазерном нагреве и химическое травление. Предложен, обоснован и экспериментально опробован неразрушающий оптический метод контроля нанометрической апертуры БО зондов. Идея метода – реконструкция ближнепольного источника с помощью теоретического алгоритма обратной задачи из экспериментального дальнепольного распределения. Обсуждаются некоторые перспективы дальнейшего совершенствования конструкций и технологий БО зондов.
Поступила в редакцию: 29.03.2005 Исправленный вариант: 29.05.2006
Образец цитирования:
В. Ф. Дряхлушин, В. П. Вейко, Н. Б. Вознесенский, “Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и ближнепольные оптические зонды: свойства, изготовление и контроль параметров”, Квантовая электроника, 37:2 (2007), 193–203 [Quantum Electron., 37:2 (2007), 193–203]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe8955 https://www.mathnet.ru/rus/qe/v37/i2/p193
|
|