Квантовая электроника
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Квантовая электроника:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Квантовая электроника, 2007, том 37, номер 2, страницы 193–203 (Mi qe8955)  

Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Оптическая микроскопия

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и ближнепольные оптические зонды: свойства, изготовление и контроль параметров

В. Ф. Дряхлушин, В. П. Вейко, Н. Б. Вознесенский

Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики
Аннотация: Во введении приведен краткий обзор современных областей использования ближнепольных оптических (БО) устройств, и среди них БО микроскопии, спектроскопии и литографии. Обсуждается проблема создания БО зондов как наиболее важного элемента БО устройств, от которого зависит разрешение и эффективность БО приборов. На основе работ авторов детально рассмотрены два различных подхода к формированию БО зондов с использованием адиабатического утоньшения оптического волокна: механическая вытяжка при лазерном нагреве и химическое травление. Предложен, обоснован и экспериментально опробован неразрушающий оптический метод контроля нанометрической апертуры БО зондов. Идея метода – реконструкция ближнепольного источника с помощью теоретического алгоритма обратной задачи из экспериментального дальнепольного распределения. Обсуждаются некоторые перспективы дальнейшего совершенствования конструкций и технологий БО зондов.
Поступила в редакцию: 29.03.2005
Исправленный вариант: 29.05.2006
Англоязычная версия:
Quantum Electronics, 2007, Volume 37, Issue 2, Pages 193–203
DOI: https://doi.org/10.1070/QE2007v037n02ABEH008955
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 07.79.Fc


Образец цитирования: В. Ф. Дряхлушин, В. П. Вейко, Н. Б. Вознесенский, “Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и ближнепольные оптические зонды: свойства, изготовление и контроль параметров”, Квантовая электроника, 37:2 (2007), 193–203 [Quantum Electron., 37:2 (2007), 193–203]
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe8955
  • https://www.mathnet.ru/rus/qe/v37/i2/p193
  • Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Квантовая электроника Quantum Electronics
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024