Аннотация:
Во введении приведен краткий обзор современных областей использования ближнепольных оптических (БО) устройств, и среди них БО микроскопии, спектроскопии и литографии. Обсуждается проблема создания БО зондов как наиболее важного элемента БО устройств, от которого зависит разрешение и эффективность БО приборов. На основе работ авторов детально рассмотрены два различных подхода к формированию БО зондов с использованием адиабатического утоньшения оптического волокна: механическая вытяжка при лазерном нагреве и химическое травление. Предложен, обоснован и экспериментально опробован неразрушающий оптический метод контроля нанометрической апертуры БО зондов. Идея метода – реконструкция ближнепольного источника с помощью теоретического алгоритма обратной задачи из экспериментального дальнепольного распределения. Обсуждаются некоторые перспективы дальнейшего совершенствования конструкций и технологий БО зондов.
Поступила в редакцию: 29.03.2005 Исправленный вариант: 29.05.2006
Образец цитирования:
В. Ф. Дряхлушин, В. П. Вейко, Н. Б. Вознесенский, “Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и ближнепольные оптические зонды: свойства, изготовление и контроль параметров”, Квантовая электроника, 37:2 (2007), 193–203 [Quantum Electron., 37:2 (2007), 193–203]
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/qe8955
https://www.mathnet.ru/rus/qe/v37/i2/p193
Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
Taiji Yakushiji, MEMBRANE, 37:1 (2012), 22
V. P. Veǐko, M. V. Yarchuk, A. I. Ivanov, J. Opt. Technol, 78:8 (2011), 512
Samir K Mondal, Anupam Mitra, Nahar Singh, Frank Shi, Pawan Kapur, IEEE Photon. Technol. Lett., 23:19 (2011), 1382
Anupam Mitra, Nahar Singh, S. N. Sarkar, Pawan Kapur, Samir K. Mondal, Opt Express, 17:22 (2009), 19470