|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2019 |
1. |
В. И. Орлов, Н. А. Ярыкин, Е. Б. Якимов, “Влияние никеля и меди, введенных при комнатной температуре, на рекомбинационные свойства протяженных дефектов в кремнии”, Физика и техника полупроводников, 53:4 (2019), 433–436 ; V. I. Orlov, N. A. Yarykin, E. B. Yakimov, “Effect of nickel and copper introduced at room temperature on the recombination properties of extended defects in silicon”, Semiconductors, 53:4 (2019), 411–414 |
3
|
2. |
С. М. Пещерова, Е. Б. Якимов, А. И. Непомнящих, В. И. Орлов, О. В. Феклисова, Л. А. Павлова, Р. В. Пресняков, “Зависимость объемных электрофизических свойств мультикремния от параметров разориентации зерен”, Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 59–64 ; S. M. Peshcherova, E. B. Yakimov, A. I. Nepomnyashchikh, V. I. Orlov, O. V. Feklisova, L. A. Pavlova, R. V. Presnyakov, “Dependence of the bulk electrical properties of multisilicon on the grain misorientation parameters”, Semiconductors, 53:1 (2019), 55–59 |
1
|
|