Сканирующая зондовая микроскопия, алмазные камеры высокого давления.
Научная биография:
В 1975 году закончил ФМШ №18 им. Колмогорова при МГУ, в 1981 году закончил МФТИ, с 1981 по 2002 год научный сотрудник Института физики высоких давлений РАН, с 2002 года научный сотрудник Института спектроскопии РАН.
Основные публикации:
А. Черкун, “Секрет змеи. Ползёт или катится?”, Квант, 1998, № 2, 44–45
В. И. Балыкин, П. А. Борисов, В. С. Летохов, П. Н. Мелентьев, С. Н. Руднев, А. П. Черкун, А. П. Акименко, П. Ю. Апель, В. А. Скуратов, “Атомная камера-обскура с нанометровым разрешением”, Письма в ЖЭТФ, 84:8 (2006), 544–547
B. И. Балыкин, П. А. Борисов, В. С. Летохов, П. Н. Мелентьев, С. Н. Руднев, А. П. Черкун, А. П. Акименко, П. Ю. Апель, В. А. Скуратов, “Атомно-проекционная параллельная фабрикация наноструктур”, Известия Академии наук. Серия физическая, 72:2 (2008), 224–228
A. P. Cherkun, D. V. Serebryakov, S. K. Sekatskii, I. V. Morozov, and V. S. Letokhov, “Double-resonance probe for near-field scanning optical microscopy”, Rev. Sci. Instr., 77:3 (2006), 033703–033703-7
D. V. Serebryakov, S. K. Sekatskii, A. P. Cherkun, K. Dukenbayev, I. V. Morozov, V. S. Letokhov, G. Dietler, “Scanning near-field optical microscope based on a double resonant fibre probe montage and equipped with time-gated photon detection”, Journal of Microscopy, 229:2 (2008), 287–292
Б. Н. Миронов, А. П. Черкун, С. А. Асеев, С. В. Чекалин, “Сканирующая фотоэлектронная микроскопия с использованием острого зонда-капилляра”, Квантовая электроника, 47:8 (2017), 757–761 [B. N. Mironov, A. P. Cherkun, S. A. Aseev, S. V. Chekalin, “Scanning photoelectron microscopy using a pointed capillary probe”, Quantum Electron., 47:8 (2017), 757–761]
2014
2.
А. П. Черкун, Б. Н. Миронов, С. А. Асеев, С. В. Чекалин, “Фотоэлектронная сканирующая микроскопия с полым острием”, Письма в ЖЭТФ, 99:10 (2014), 683–686; A. P. Cherkun, B. N. Mironov, S. A. Aseev, S. V. Chekalin, “Hollow-tip scanning photoelectron microscopy”, JETP Letters, 99:10 (2014), 594–597
С. А. Асеев, Б. Н. Миронов, В. Г. Миногин, А. П. Черкун, С. В. Чекалин, “Микроскопия фотоионизационных процессов”, Квантовая электроника, 43:4 (2013), 308–312 [S. A. Aseev, B. N. Mironov, V. G. Minogin, A. P. Cherkun, S. V. Chekalin, “Microscopy of photoionisation processes”, Quantum Electron., 43:4 (2013), 308–312]
В. И. Балыкин, П. А. Борисов, В. С. Летохов, П. Н. Мелентьев, С. Н. Руднев, А. П. Черкун, А. П. Акименко, П. Ю. Апель, В. А. Скуратов, “Атомная “камера-обскура” с нанометровым разрешением”, Письма в ЖЭТФ, 84:8 (2006), 544–547; V. I. Balykin, P. A. Borisov, V. S. Letokhov, P. N. Melent'ev, S. N. Rudnev, A. P. Cherkun, A. P. Akimenko, P. Yu. Apel', V. A. Skuratov, “Atom “pinhole camera” with nanometer resolution”, JETP Letters, 84:8 (2006), 466–469
Обратная связь: