Фотоэлектронная сканирующая микроскопия с полым острием

Реализован новый тип микроскопии на основе сканирования в вакууме полым зондом, сквозь который пропущен пучок заряженных частиц. Такой подход позволяет контролируемым образом перемещать пространственно-локализованные пучки ионов, электронов, молекул (атомов) и мягкого рентгеновского излучения, а также проводить исследования поверхности в “классическом” зондовом режиме. В фотоэлектронной моде, когда электроны пропущены сквозь $2$-микронный кварцевый капилляр, с субволновым пространственным разрешением визуализирован профиль поверхности гадолиния, облученной $400$-нанометровыми фемтосекундными лазерными импульсами. Новый метод микроскопии открывает возможность для исследований в области нанолокальной фотодесорбции молекулярных ионов (одна из последних идей В. С. Летохова).