|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2017 |
| 1. |
Х. Хашим, С. П. Сингх, Л. В. Панина, Ф. А. Пудонин, И. А. Шерстнев, C. В. Подгорная, И. А. Шпетный, А. В. Беклемишева, “Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями”, Физика твердого тела, 59:11 (2017), 2191–2195   ; H. Hashim, S. P. Singkh, L. V. Panina, F. A. Pudonin, I. A. Sherstnev, S. V. Podgornaya, I. A. Shpetnyi, A. V. Beklemisheva, “Spectral ellipsometry as a method for characterization of nanosized films with ferromagnetic layers”, Phys. Solid State, 59:11 (2017), 2211–2215 |
1
|
|
Обратная связь: