Физика твердого тела
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Физика твердого тела:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Физика твердого тела, 2017, том 59, выпуск 11, страницы 2191–2195
DOI: https://doi.org/10.21883/FTT.2017.11.45059.21k (Mi ftt9399) 		 
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

XX Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Н. Новгород, 13-16 марта 2017 г.
Магнетизм

Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями

Х. Хашимa, С. П. Сингхa, Л. В. Панинаab, Ф. А. Пудонинc, И. А. Шерстневc, C. В. Подгорнаяa, И. А. Шпетныйd, А. В. Беклемишеваa

a Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", г. Москва
b Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН, г. Зеленоград
c Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва
d Сумский государственный университет
PDF полного текста (597 kB) Список цитирования (1)
DOI: https://doi.org/10.21883/FTT.2017.11.45059.21k
Аннотация: Наноструктурированные пленки с ферромагнитными слоями широко используются в наноэлектронике, сенсорных системах и телекоммуникации. Свойства нанопленок могут существенно отличаться от объемных материалов, что обусловлено влиянием интерфейсов, промежуточных слоев и диффузии. В данной работе развиваются методы спектральной эллипсометрии и магнитооптики для исследования оптических параметров и процессов намагничивания для двух- и трехслойных пленок типа Cr/NiFe, Al/NiFe, Сr(Al)/Ge/NiFe на ситалловой подложке для различных толщин слоев Cr и Al. При толщине слоя меньше 20 nm имеется существенная зависимость комплексных коэффициентов преломления от толщины. Процессы перемагничивания двухслойных пленок слабо зависят от толщины верхнего слоя, однако значение коэрцитивности при перемагничивании трехслойных пленок может увеличиться более, чем в два раза, при увеличении толщины верхнего слоя с 4 до 20 nm.
Англоязычная версия:
Physics of the Solid State, 2017, Volume 59, Issue 11, Pages 2211–2215
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063783417110142
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Х. Хашим, С. П. Сингх, Л. В. Панина, Ф. А. Пудонин, И. А. Шерстнев, C. В. Подгорная, И. А. Шпетный, А. В. Беклемишева, “Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями”, Физика твердого тела, 59:11 (2017), 2191–2195; Phys. Solid State, 59:11 (2017), 2211–2215
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{HasSinPan17}
\by Х.~Хашим, С.~П.~Сингх, Л.~В.~Панина, Ф.~А.~Пудонин, И.~А.~Шерстнев, C.~В.~Подгорная, И.~А.~Шпетный, А.~В.~Беклемишева
\paper Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями
\jour Физика твердого тела
\yr 2017
\vol 59
\issue 11
\pages 2191--2195
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ftt9399}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTT.2017.11.45059.21k}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=30554684}
\transl
\jour Phys. Solid State
\yr 2017
\vol 59
\issue 11
\pages 2211--2215
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063783417110142}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/ftt9399
  • https://www.mathnet.ru/rus/ftt/v59/i11/p2191
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Физика твердого тела Физика твердого тела
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:37
    PDF полного текста:35
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024