|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2016 |
| 1. |
П. А. Александров, Е. К. Баранова, В. В. Бударагин, “Оценка эффективности введения пористого слоя в подложку структур кремний-на-сапфире для повышения надежности приборов при облучении”, Физика и техника полупроводников, 50:8 (2016), 1128–1132   ; P. A. Aleksandrov, E. K. Baranova, V. V. Budaragin, “Estimation of the efficiency of the introduction of a porous layer into a silicon-on-sapphire structure substrate to enhance the reliability of devices under irradiation”, Semiconductors, 50:8 (2016), 1107–1111 |
1
|
|
Обратная связь: