|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2016 |
| 1. |
В. Ф. Зинченко, К. В. Лаврентьев, В. В. Емельянов, А. С. Ватуев, “Сравнительный анализ механизмов пробоя тонких окислов SiO$_{2}$ в структурах металл–окисел–полупроводник при воздействии тяжелых заряженных частиц и импульсного электрического напряжения”, ЖТФ, 86:2 (2016), 30–36   ; V. F. Zinchenko, K. V. Lavrent’ev, V. V. Emel'yanov, A. S. Vatuev, “Comparative analysis of breakdown mechanism in thin SiO$_2$ oxide films in metal–oxide–semiconductor structures under the action of heavy charged particles and a pulsed voltage”, Tech. Phys., 61:2 (2016), 187–193 |
1
|
|
Обратная связь: