|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2018 |
| 1. |
Л. П. Авакянц, П. Ю. Боков, И. П. Казаков, М. А. Базалевский, П. М. Деев, А. В. Червяков, “Исследование методом спектроскопии фотоотражения слоев LT-GaAs, выращенных на подложках Si и GaAs”, Физика и техника полупроводников, 52:7 (2018), 708–711   ; L. P. Avakyants, P. Yu. Bokov, I. P. Kazakov, M. A. Bazalevsky, P. M. Deev, A. V. Chervyakov, “Photoreflectance spectroscopy study of LT-GaAs layers grown on Si and GaAs substrates”, Semiconductors, 52:7 (2018), 849–852 |
1
|
|
Обратная связь: