|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2019 |
1. |
Ю. А. Кабальнов, А. Н. Труфанов, С. В. Оболенский, “Исследование радиационной стойкости фотодиодов на структурах кремний-на-сапфире”, Физика и техника полупроводников, 53:3 (2019), 388–395 ; Yu. A. Kabalnov, A. N. Trufanov, S. V. Obolensky, “Investigation into the radiation hardness of photodiodes based on silicon-on-sapphire structures”, Semiconductors, 53:3 (2019), 368–374 |
1
|
|