|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2018 |
| 1. |
Д. А. Кириенко, О. Я. Березина, “Нейросетевой метод прогнозирования образования дефектов на поверхности тонких пленок ITO при механических нагрузках”, Письма в ЖТФ, 44:9 (2018), 81–87   ; D. A. Kirienko, O. Ya. Berezina, “A neural-network method of predicting defect formation on the surface of thin ITO films under mechanical load”, Tech. Phys. Lett., 44:5 (2018), 401–403 |
|
2017 |
| 2. |
Д. А. Кириенко, О. Я. Березина, “Отделение тонких пленок ITO от кремниевой подложки с помощью микросекундного лазерного облучения”, Физика и техника полупроводников, 51:6 (2017), 855–859 ; D. A. Kirienko, O. Ya. Berezina, “On the detachment of thin ITO films from silicon substrate by microsecond laser irradiation”, Semiconductors, 51:6 (2017), 823–827 |
4
|
|
Обратная связь: