|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
| 1. |
Р. В. Селюков, М. О. Изюмов, В. В. Наумов, Л. А. Мазалецкий, “Формирование текстуры (100) в тонких пленках Ti под действием низкоэнергетической ионной бомбардировки”, Письма в ЖТФ, 47:23 (2021), 35–39   |
1
|
|
2020 |
| 2. |
Р. В. Селюков, В. В. Наумов, “Влияние толщины пленки Pt на изменение текстуры и доли кристаллической фазы при ее отжиге”, ЖТФ, 90:5 (2020), 795–804 ; R. V. Selyukov, V. V. Naumov, “The influence of film thickness on the annealing-induced changes of texture and of the fraction of crystalline phase in Pt films”, Tech. Phys., 65:5 (2020), 762–770 |
|
2018 |
| 3. |
Р. В. Селюков, В. В. Наумов, С. В. Васильев, “Влияние толщины пленки Pt на процессы роста зерен при ее отжиге”, ЖТФ, 88:6 (2018), 926–933 ; R. V. Selyukov, V. V. Naumov, S. V. Vasilev, “The influence of film thickness on annealing-induced grain growth in Pt films”, Tech. Phys., 63:6 (2018), 900–907 |
6
|
|
Обратная связь: