|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
| 1. |
Б. Е. Умирзаков, С. Б. Донаев, Р. М. Ёркулов, Р. Х. Ашуров, В. М. Ротштейн, “Состав и морфология поверхности Si(111) с поверхностной пленкой SiO$_{2}$ разной толщины”, Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1045–1048   |
|
2019 |
| 2. |
Б. Е. Умирзаков, Р. Х. Ашуров, С. Б. Донаев, “Морфология и электронные свойства наноразмерных структур Si, созданных на поверхности CaF$_{2}$”, ЖТФ, 89:2 (2019), 264–267 ; B. E. Umirzakov, R. Kh. Ashurov, S. B. Donaev, “The morphology and electronic properties of si nanoscale structures on a CaF$_{2}$ surface”, Tech. Phys., 64:2 (2019), 232–235 |
4
|
|
Обратная связь: