Персоналии
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
 
Паршин Анатолий Сергеевич

В базах данных Math-Net.Ru
Публикаций: 4
Научных статей: 4

Статистика просмотров:
Эта страница:42
Страницы публикаций:139
Полные тексты:51
доцент
кандидат физико-математических наук

https://www.mathnet.ru/rus/person182685
Список публикаций на Google Scholar
Список публикаций на ZentralBlatt

Публикации в базе данных Math-Net.Ru Цитирования
2021
1. А. С. Паршин, Ю. Л. Михлин, Г. А. Александрова, “Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов $\gamma$-Fe$_{2}$O$_{3}$”, Физика твердого тела, 63:8 (2021),  1049–1055  mathnet  elib; A. S. Parshin, Yu. L. Mikhlin, G. A. Alexandrova, “Spectroscopy of reflected electron energy losses of $\gamma$-Fe$_{2}$O$_{3}$”, Phys. Solid State, 63:8 (2021), 1294–1300
2016
2. А. С. Паршин, А. Ю. Игуменов, Ю. Л. Михлин, О. П. Пчеляков, В. С. Жигалов, “Сравнительный анализ спектров характеристических потерь энергии электронов и спектров сечения неупругого рассеяния в Fe”, Физика твердого тела, 58:5 (2016),  881–887  mathnet  elib; A. S. Parshin, A. Yu. Igumenov, Yu. L. Mikhlin, O. P. Pchelyakov, V. S. Zhigalov, “Comparative analysis of characteristic electron energy loss spectra and inelastic scattering cross-section spectra of Fe”, Phys. Solid State, 58:5 (2016), 908–914 5
3. А. С. Паршин, А. Ю. Игуменов, Ю. Л. Михлин, О. П. Пчеляков, В. С. Жигалов, “Исследование дисилицида железа методами электронной спектроскопии”, ЖТФ, 86:9 (2016),  136–140  mathnet  elib; A. S. Parshin, A. Yu. Igumenov, Yu. L. Mikhlin, O. P. Pchelyakov, V. S. Zhigalov, “Electron spectroscopy of iron disilicide”, Tech. Phys., 61:9 (2016), 1418–1422 4
4. А. С. Паршин, С. А. Кущенков, О. П. Пчеляков, Ю. Л. Михлин, “Послойный анализ методом спектроскопии сечения неупругого рассеяния электронов распределения диоксида кремния по толщине в структуре SiO$_{2}$/Si(111)”, Физика и техника полупроводников, 50:3 (2016),  344–349  mathnet  elib; A. S. Parshin, S. A. Kushchenkov, O. P. Pchelyakov, Yu. L. Mikhlin, “Layer-by-layer analysis of the thickness distribution of silicon dioxide in the structure SiO$_{2}$/Si(111) by inelastic electron scattering cross-section spectroscopy”, Semiconductors, 50:3 (2016), 339–344

Организации
 
  Обратная связь:
 Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024