|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
| 1. |
С. В. Новиков, В. С. Кузнецова, А. Т. Бурков, И. Шуманн, “Зависимость кинетики кристаллизации тонких пленок Cr$_{0.26}$Si$_{0.74}$ от толщины”, Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 355–357   ; S. V. Novikov, V. S. Kuznetsova, A. Burkov, I. Shumann, “Dependence of the crystallization kinetics of Cr$_{0.26}$Si$_{0.74}$ thin films on their thickness”, Semiconductors, 54:4 (2020), 426–428 |
1
|
|
1988 |
| 2. |
А. Н. Алешин, А. Н. Ионов, Р. В. Парфеньев, И. С. Шлимак, А. Хайнрих, И. Шуманн, Д. Элефант, “Особенности низкотемпературной проводимости и магнитосопротивления аморфных пленок системы германий–хром”, Физика твердого тела, 30:3 (1988), 696–699  |
|
Обратная связь: