М.О. Макеев, Ю.А. Иванов, С.А. Мешков, “Оценка стойкости к диффузионной деструкции наноразмерных AlAs/GaAs резонансно-туннельных гетероструктур методом ИК-спектральной эллипсометрии”, Физика и техника полупроводников, 50:1 (2016), 83-88
Батшев В.И., Козлов А.Б., Мачихин А.С., Макеев М.О., Осипков А.С., Булатов М.Ф., Кинжагулов И.Ю., Степанова К.А, “Упрочнение зеркальной поверхности за счет нанесения углеродной наноструктуры”, Оптика и спектроскопия, 127:4 (2019), 581-585
D.S. Ryzhenko, M.O. Makeev and G.N. Kuvyrkin, “Experimental studies of metamaterials application in transmission lines based on coaxial waveguide”, ARPN Journal of Engineering and Applied Sciences, 15:2 (2020), 264-269
P. Shiriaev, M. Makeev, D. Ryzhenko, O. Popkov, “Theoretical study of electromagnetic and optical properties of periodic conductive networks based on Voronoi diagrams”, Materials Today: Proceedings, 2019, no. 19, 2179-2182
М.О. Макеев, С.А. Мешков, Ю.А. Иванов, Применение инфракрасной спектроскопической эллипсометрии в наноинженерии: монография, ISBN 978-5-209-08575-1, РУДН, 2018
В. И. Батшев, А. Б. Козлов, А. С. Мачихин, М. О. Макеев, А. С. Осипков, М. Ф. Булатов, И. Ю. Кинжагулов, К. А. Степанова, “Упрочнение зеркальной поверхности за счет нанесения углеродной наноструктуры”, Оптика и спектроскопия, 127:4 (2019), 581–585; V. I. Batshev, A. B. Kozlov, A. S. Machikhin, M. O. Makeev, A. S. Osipkov, M. F. Bulatov, I. Yu. Kinzhagulov, K. A. Stepanova, “Reinforcing of a mirror surface via the deposition of a carbon nanostructure”, Optics and Spectroscopy, 127:4 (2019), 634–638
М. О. Макеев, Ю. А. Иванов, С. А. Мешков, “Оценка стойкости к диффузионной деструкции наноразмерных AlAs/GaAs резонансно-туннельных гетероструктур методом ИК-спектральной эллипсометрии”, Физика и техника полупроводников, 50:1 (2016), 83–88; M. O. Makeev, Yu. A. Ivanov, S. A. Meshkov, “Assessment of the resistance to diffusion destruction of AlAs/GaAs nanoscale resonant-tunneling heterostructures by IR spectral ellipsometry”, Semiconductors, 50:1 (2016), 83–88