|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2016 |
| 1. |
П. К. Гайкович, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, Ф. Шеферс, А. Соколов, “Влияние шероховатостей, детерминированных и случайных ошибок в толщинах пленок на отражательные характеристики апериодических зеркал для ЭУФ диапазона”, Квантовая электроника, 46:5 (2016), 406–413   [P. K. Gaikovich, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, F. Schäfers, A. Sokolov, “Effect of roughness, deterministic and random errors in film thickness on the reflecting properties of aperiodic mirrors for the EUV range”, Quantum Electron., 46:5 (2016), 406–413   ] |
8
|
|
Обратная связь: