В 2008 году окончил Московский авиационный институт Национальный исследовательский университет, факультет прикладной математики и физики. Специализируется в области оптической обработки информации и голографии.
В. В. Колючкин, Е. Ю. Злоказов, С. Б. Одиноков, В. Е. Талалаев, И. К. Цыганов, “Mетод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов”, Компьютерная оптика, 39:4 (2015), 515–520