Компьютерная оптика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Компьютерная оптика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Компьютерная оптика, 2015, том 39, выпуск 4, страницы 515–520
DOI: https://doi.org/10.18287/0134-2452-2015-39-4-515-520 (Mi co12) 		 
Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Mетод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов

В. В. Колючкинa, Е. Ю. Злоказовb, С. Б. Одиноковa, В. Е. Талалаевa, И. К. Цыгановa

a Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана, Москва, Россия
b Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Москва, Россия
PDF полного текста (435 kB) Список цитирования (7)
Список литературы:
PDF
HTML
DOI: https://doi.org/10.18287/0134-2452-2015-39-4-515-520
Аннотация: Защитные голограммы применяются в качестве элементов, подтверждающих подлинность документов и различной продукции. Качество защитных голограмм в значительной степени зависит от глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов. Авторами статьи предлагается метод контроля качества защитных голограмм, основанный на непрямых измерениях параметров микрорельефа. В статье представлены результаты теоретических исследований предложенного метода.
Ключевые слова: голография, дифракционные решётки, теория дифракции, голографические оптические элементы, дифракционные оптические элементы.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 3.1426.2014К
Работа выполнена при финансовой поддержке Минобрнауки России в рамках выполнения проектной части государственного задания (проект № 3.1426.2014К).
Поступила в редакцию: 23.06.2015
Исправленный вариант: 29.09.2015
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. В. Колючкин, Е. Ю. Злоказов, С. Б. Одиноков, В. Е. Талалаев, И. К. Цыганов, “Mетод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов”, Компьютерная оптика, 39:4 (2015), 515–520
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KolZloOdi15}
\by В.~В.~Колючкин, Е.~Ю.~Злоказов, С.~Б.~Одиноков, В.~Е.~Талалаев, И.~К.~Цыганов
\paper Mетод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов
\jour Компьютерная оптика
\yr 2015
\vol 39
\issue 4
\pages 515--520
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/co12}
\crossref{https://doi.org/10.18287/0134-2452-2015-39-4-515-520}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/co12
  • https://www.mathnet.ru/rus/co/v39/i4/p515
    • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Компьютерная оптика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:227
    PDF полного текста:64
    Список литературы:28
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024