B. T. Boyko, V. M. Bratsikhin, A. T. Pugachev, “Electron-diffraction determination of the integrated emissivity of thin films”, TVT, 9:3 (1971), 652–654; High Temperature, 9:3 (1971), 600–602
1977
2.
A. T. Pugachev, Yu. A. Volkov, “Метод электронографического определения температуропроводности тонких пленок (№ 3028-77 Деп. от 25 VII 1977)”, TVT, 15:5 (1977), 1129
Contact us: