|
Физика
Система освещения объекта для микроскопии с субдифракционным разрешением
С. А. Ассельборн, Е. С. Зацепин, Д. С. Исаков, А. М. Герасимов, Д. Г. Пихуля, Ю. В. Микляев Южно-Уральский государственный университет, г. Челябинск, Российская Федерация
Аннотация:
Разработана система освещения объекта лазерным источником с подавлением когерентности для оптической микроскопии. Освещение объекта выполнено по методу темного поля. Данная система позволяет визуализировать детали (наночастицы) с размерами менее 50 нм. Это необходимо для повышения разрешения ранее предложенного метода сверхразрешения оптической микроскопии NORM (наноскопии), основанном на обработке в реальном времени видеопотока, регистрирующего броуновское движение наночастиц над поверхностью объекта. Реализован метод определения вертикальной координаты наночастиц при помощи астигматического изображения. Получены трехмерные картины распределения координат наночастиц в суспензии над наблюдаемым объектом. Разрешение по вертикали составило менее 200 нм, в плоскости объекта (по обоим латеральным координатам) - менее 100 нм.
Ключевые слова:
микроскопия, наноскопия, ближнепольная микроскопия, сверхразрешение, наночастицы, анализ траекторий частиц, видеообработка.
Поступила в редакцию: 20.04.2022
Образец цитирования:
С. А. Ассельборн, Е. С. Зацепин, Д. С. Исаков, А. М. Герасимов, Д. Г. Пихуля, Ю. В. Микляев, “Система освещения объекта для микроскопии с субдифракционным разрешением”, Вестн. Южно-Ур. ун-та. Сер. Матем. Мех. Физ., 14:3 (2022), 68–78
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/vyurm529 https://www.mathnet.ru/rus/vyurm/v14/i3/p68
|
|