О симметрии проективных кривых

Известные методы поиска симметрии выпуклых овалов обобщены для нового класса плоских проективных кривых, включающего вещественные кубические кривые. Предлагаемый метод использует только построение касательных, но не требует вычисления кривизны. Этот подход повышает точность вычислений и позволяет использовать графические методы. Распознавание симметрично расположенных точек позволяет согласовывать фотоснимки, выполненные с разных ракурсов, поскольку мы изучаем симметрию проективных кривых. Результаты можно использовать для иллюстрации методов начертательной геометрии.