|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Прикладная математика
Method for determining optical constants and the thickness of the thin film
[Методика определения оптических констант и толщины тонкой пленки]
A. G. Karpov, V. A. Klemeshev St. Petersburg State University, 7–9, Universitetskaya nab.,
St. Petersburg, 199034, Russian Federation
Аннотация:
Представлены результаты разработки и применения методики определения оптических констант и толщины тонкой пленки. Для определения неизмеримых параметров сформирована обобщенная целевая модельная функция. Модельная привязка осуществляется с помощью методов наименьших квадратов и наискорейшего спуска. Повышение эффективности достигается путем применения трехэтапного алгоритма обработки данных. Предложенная методика применена для расчета характеристик многощелочного фотокатода — сложного соединения, имеющего в своем составе антимониды калия, натрия и цезия. Проведено сравнение результатов расчетов с данными, приводимыми в литературе. Библиогр. 11 назв. Ил. 4.
Ключевые слова:
тонкая пленка, оптические константы, толщина тонкой пленки, обобщенная целевая модельная функция, алгоритм обработки данных.
Поступила: 3 ноября 2016 г. Принята к печати: 19 января 2017 г.
Образец цитирования:
A. G. Karpov, V. A. Klemeshev, “Method for determining optical constants and the thickness of the thin film”, Вестн. С.-Петербург. ун-та. Сер. 10. Прикл. матем. Информ. Проц. упр., 13:1 (2017), 17–26
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/vspui317 https://www.mathnet.ru/rus/vspui/v13/i1/p17
|
|