|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Механика
Photoelastic study of a double edge notched plate for determination of the Williams series expansion
[Исследование пластины с двумя боковыми надрезами с помощью метода фотоупругости]
L. V. Stepanova, K. N. Aldebeneva Samara National Research University, Samara, Russian Federation
(публикуется на условиях лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International)
Аннотация:
В данной статье метод цифровой фотоупругости применяется для вычисления параметров линейной механики разрушения у вершины надреза для пластины с двойными боковыми надрезами. Основной целью исследования является получение коэффициентов высших приближений ряда Уильямса для полей напряжений и перемещений в окрестности вершины трещины методом цифровой фотоупругости для пластины с боковыми горизонтальными надрезами. Разработан и использован инструмент цифровой обработки изображений для экспериментальных данных, полученных методом фотоупругости. Обработка цифровых изображений основана на подходе Рамеша, но позволяет сканировать изображение в любом направлении, применять большее количество фильтров и анализировать изображение после любого наперед заданного количества логических операций. При цифровой обработке изображений интерференционной картины полос оптические данные преобразуются в текстовый файл, а затем точки, принадлежащие изохроматическим полосам с минимальной интенсивностью света, используются для оценки параметров механики разрушения. Выполнен анализ влияния членов более высокого порядка в разложении Уильямса на описание поля напряжений у вершины надреза. Показано, что для точного описания поля напряжений в окрестности вершины трещины необходимы слагаемые более высокого порядка. Экспериментальные значения коэффициентов интенсивности напряжений, оцененные с использованием предложенного метода, сравниваются с результатами конечно-элементного анализа и находятся в хорошем согласии друг с другом.
Ключевые слова:
поля у вершины трещины, переопределенный метод, конечно-элементный анализ, высшие приближения, многопараметрическое разложение поля напряжений, цифровая фотоупругость, обработка изображения.
Поступила в редакцию: 08.10.2020 Исправленный вариант: 09.11.2020 Принята в печать: 25.11.2020
Образец цитирования:
L. V. Stepanova, K. N. Aldebeneva, “Photoelastic study of a double edge notched plate for determination of the Williams series expansion”, Вестн. СамУ. Естественнонаучн. сер., 26:4 (2020), 56–67
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/vsgu641 https://www.mathnet.ru/rus/vsgu/v26/i4/p56
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 59 | PDF полного текста: | 25 | Список литературы: | 20 |
|