|
Вестник Самарского государственного университета. Естественнонаучная серия, 2013, выпуск 3(104), страницы 107–119
(Mi vsgu333)
|
|
|
|
Физика
Механизмы деградации электрофизических характеристик МОП-структур с high-$k$ диэлектриками
М. Б. Шалимоваa, В. С. Афанасковa, Е. Н. Хавдейb a Самарский государственный университет, 443011, Российская
Федерация, г. Самара, ул. Акад. Павлова, 1
b Физический институт им. П. Н. Лебедева, 443011, Российская Федерация, г. Самара, ул. Ново-Садовая, 221
(публикуется на условиях лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International)
Аннотация:
Представлены результаты изучения процессов изменения электрофизических характеристик при различных режимах работы МОП-структур и анализ наиболее вероятных механизмов деградации структур. Затворный диэлектрик изготавливался из оксидов редкоземельных элементов (high-$k$ диэлектрики). Проводилась оценка влияния электрического поля и температуры на изменение зарядового состояния исследуемых структур, определялась величина энергетической плотности поверхностных состояний на границе раздела диэлектрик-полупроводник.
Ключевые слова:
МОП-конденсатор, надежность, пробой оксида, затворный диэлектрик, оксиды редкоземельных элементов.
Поступила в редакцию: 02.03.2013 Исправленный вариант: 02.03.2013
Образец цитирования:
М. Б. Шалимова, В. С. Афанасков, Е. Н. Хавдей, “Механизмы деградации электрофизических характеристик МОП-структур с high-$k$ диэлектриками”, Вестн. СамГУ. Естественнонаучн. сер., 2013, № 3(104), 107–119
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/vsgu333 https://www.mathnet.ru/rus/vsgu/y2013/i3/p107
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 124 | PDF полного текста: | 55 | Список литературы: | 23 |
|