|
Вестник Самарского государственного университета. Естественнонаучная серия, 2010, выпуск 6(80), страницы 116–124
(Mi vsgu200)
|
|
|
|
Физика
Анализ и устранение влияния оптического фактора на параметрическую оценку микрорельефа поверхности, производимую оптико-электронным комплексом
А. Д. Абрамов, А. И. Никонов Кафедра электронных систем и информационной безопасности
Самарского государственного технического университета, 443100, Российская Федерация, г. Самара,
ул. Молодогвардейская, 244
(публикуется на условиях лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International)
Аннотация:
В статье рассматривается метод компенсации дополнительной погрешности измерения оптико-электронными средствами параметров микрорельефа поверхности, которая возникает вследствие отклонения уровня светового потока от его номинального значения. Метод основывается на определении автокорреляционных функций по изображениям анализируемых поверхностей.
Ключевые слова:
метод, оптико-электронный комплекс, измерение, преобразователь, поверхность, световой поток, изображение, погрешность, компенсация, автокорреляция.
Поступила в редакцию: 22.03.2010 Исправленный вариант: 22.03.2010
Образец цитирования:
А. Д. Абрамов, А. И. Никонов, “Анализ и устранение влияния оптического фактора на параметрическую оценку микрорельефа поверхности, производимую оптико-электронным комплексом”, Вестн. СамГУ. Естественнонаучн. сер., 2010, № 6(80), 116–124
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/vsgu200 https://www.mathnet.ru/rus/vsgu/y2010/i6/p116
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 947 | PDF полного текста: | 60 | Список литературы: | 48 | Первая страница: | 1 |
|