Вестник Московского университета. Серия 1: Математика. Механика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех.:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Вестник Московского университета. Серия 1: Математика. Механика, 2015, номер 1, страницы 55–59 (Mi vmumm209)  
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Краткие сообщения

О полных тестах относительно вытесняющих неисправностей входов схем

Е. В. Морозов

Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, факультет вычислительной математики и кибернетики
PDF полного текста (337 kB) Список цитирования (2)
Список литературы:
PDF
HTML
Аннотация: Рассматриваются неисправности входов схем, при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна $2n-\log_2{n}+O(\log_2{\log_2{n}})$, а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна $2^n$.
Ключевые слова: булева функция, функция Шеннона, тесты.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 12-01-00964-а
Работа выполнена при поддержке гранта РФФИ № 12-01-00964-а.
Поступила в редакцию: 12.12.2013
Англоязычная версия:
Moscow University Mathematics Bulletin, 2015, Volume 70, Issue 1, Pages 37–40
DOI: https://doi.org/10.3103/S0027132215010076
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718
Образец цитирования: Е. В. Морозов, “О полных тестах относительно вытесняющих неисправностей входов схем”, Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1. Матем., мех., 2015, № 1, 55–59; Moscow University Mathematics Bulletin, 70:1 (2015), 37–40
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Mor15}
\by Е.~В.~Морозов
\paper О полных тестах относительно вытесняющих неисправностей входов схем
\jour Вестн. Моск. ун-та. Сер.~1. Матем., мех.
\yr 2015
\issue 1
\pages 55--59
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/vmumm209}
\mathscinet{http://mathscinet.ams.org/mathscinet-getitem?mr=3401217}
\transl
\jour Moscow University Mathematics Bulletin
\yr 2015
\vol 70
\issue 1
\pages 37--40
\crossref{https://doi.org/10.3103/S0027132215010076}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000218403000007}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-84924943364}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/vmumm209
  • https://www.mathnet.ru/rus/vmumm/y2015/i1/p55
    • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024