Синтез легкотестируемых схем в базисе $\{\&,\vee,\bar{\phantom{z}}\}$ для систем функций из некоторых классов

Предложен метод синтеза легкотестируемых схем из функциональных элементов в базисе $\{\&,\vee,\bar{\phantom{z}}\}$ для систем из $m$ булевых функций, отличных от констант и представимых в виде дизъюнктивных нормальных форм, в которых $l$ переменных $x_1,\dots,x_l$, $l>0$, присутствует без отрицаний, а остальные переменные $x_{l+1},\dots,x_n$ – только с отрицаниями. В качестве неисправностей предполагаются константные неисправности типа "$1$" на выходах элементов. Доказано, что для таких схем полный проверяющий тест имеет длину, не превосходящую $\min\{m,l\}$.
Ил. 2. Библиогр. 5.