Разрушение решения уравнения стратификации объемного заряда в полупроводниках: численный анализ при сведении исходного уравнения к дифференциально-алгебраической системе

Показана эффективность одной из методик численной диагностики разрушения решения на примере решения нелинейного уравнения cоболевского типа, описывающего стратификацию объемного заряда в полупроводниках. В процессе численного исследования этой задачи использовался подход, основанный на сведении исходного уравнения в частных производных к дифференциально-алгебраической системе с последующим решением этой системы с помощью одностадийной схемы Розенброка с комплексным коэффициентом. Численная диагностика разрушения точного решения указанного уравнения основывалась на методике вычисления апостериорной асимптотически точной оценки погрешности, получаемой при вычислении приближенного решения на последовательно сгущающихся сетках