|
Вычислительные методы и программирование, 2005, том 6, выпуск 1, страницы 109–117
(Mi vmp633)
|
|
|
|
Стабилизация вычислительных алгоритмов определения свойств тонкопленочных оптических покрытий
А. В. Тихонравов, М. К. Трубецков Научно-исследовательский вычислительный центр Московского государственного университета имени М. В. Ломоносова
Аннотация:
Разработка устойчивых вычислительных алгоритмов для определения свойств тонкопленочных оптических
покрытий играет ключевую роль для успешного их применения во многих передовых областях технологии.
Настоящая статья представляет общую идею, позволяющую разрабатывать эффективные с вычислительной точки зрения и устойчивые алгоритмы определения свойств покрытий для практически всех современных производственных процессов, используемых для изготовления оптических покрытий. Эффективность одного из таких алгоритмов демонстрируется с использованием новой исследовательской методологии, названной вычислительным производством.
Ключевые слова:
многослойные покрытия, проектирование покрытий, вычислительное производство, тонкие пленки, стабилизация
multilayer coatings; coating design and characterization; computation manufacturing; thin films; stabilization.
Образец цитирования:
А. В. Тихонравов, М. К. Трубецков, “Стабилизация вычислительных алгоритмов определения свойств тонкопленочных оптических покрытий”, Выч. мет. программирование, 6:1 (2005), 109–117
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/vmp633 https://www.mathnet.ru/rus/vmp/v6/i1/p109
|
|