О единичных проверяющих тестах относительно замен элементов на инверторы

В статье рассмотрены вопросы проверяющего тестирования булевых функций, реализуемых схемами из функциональных элементов (СФЭ), на которые действует источник одиночных неисправностей, вызывающий замены функциональных элементов на инверторы. Актуальность исследования определена тем, что замены функциональных элементов на инверторы представляют собой тип неисправности, встречающийся при разработке и производстве СБИС. Исследование проведено с целью доказать возможность построения легкотестируемых схем относительно замен элементов на инверторы. Для достижения поставленной цели разработаны специальные методы синтеза легкотестируемых схем. На основе результатов исследования сделаны следующие выводы. Для произвольной булевой функции, реализуемой с помощью СФЭ над базисом Жегалкина, найдется схема, допускающая единичный проверяющий тест из одного набора. Для произвольной булевой функции, реализуемой с помощью СФЭ над стандартным базисом, найдется схема, допускающая единичный проверяющий тест из двух наборов.