О синтезе контактных схем, допускающих короткие проверяющие тесты

В статье установлено, что для произвольной отличной от константы булевой функции $f(x_1,\dots,x_n)$ существуют допускающие единичный проверяющий тест линейной по $n$ длины тестопригодные
а) трехполюсная контактная схема (с одним входным и двумя выходными полюсами), реализующая систему функций $(f,\bar f)$,
б) двухполюсная контактная схема, реализующая функцию $f(x_1,\dots,x_n)\oplus x_{n+1}$.
Доказано также, что почти все булевы функции $f(x_1,\dots,x_n)$ реализуемы двухполюсными контактными схемами, обладающими коротким проверяющим тестом (тестом длины $O(n)$) относительно однотипных неисправностей контактов.