Investigation of localized electromagnetic field in a subwave-length metallic slit

С помощью термоупругого оптического индикаторного микроскопа (ТУОИМ) исследована локализация электромагнитного поля в субволновой металлической щели. В качестве индикатора в системе ТУОИМ использовалось стекло размерами $20\times20\times0.5 (mm)$, на поверхности которого методом вакуумного испарения была нанесена алюминиевая пленка толщиной $20~nm$ с различными ширинами щели ($10-50~ \mu m$). В ней генератором СВЧ было возбуждено электсрическое поле с частотою $50~GHz$, которое было локализовано и визуализировано с помощью ТУОИМ. Волноводные свойства системы дополнительно характеризовались в интерфейсе COMSOL Multiphysics$^\circledR$. Результаты моделирования хорошо согласуются с данными экспериментальной визуализации.