PDF полного текста (339 kB)

DOI: https://doi.org/10.3367/UFNr.0145.198501i.0147

Англоязычная версия:
Physics–Uspekhi, 1985, Volume 28, Issue 1, Pages 92–93
DOI: https://doi.org/10.1070/PU1985v028n01ABEH003808

Образец цитирования: Д. Н. Клышко, А. Н. Пенин, “Квантовая фотометрия с помощью параметрического рассеяния света”, УФН, 145:1 (1985), 147–149; Phys. Usp., 28:1 (1985), 92–93

Цитирование в формате AMSBIB

Образцы ссылок на эту страницу:

https://www.mathnet.ru/rus/ufn8250

https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v145/i1/p147

КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ

• Научная сессия Отделения общей физики и астрономии и Отделения ядерной физики АН СССР (25–26 апреля 1984 г.)
  УФН, 1985, 145:1, 147–157
• Квантовая фотометрия с помощью параметрического рассеяния света
  Д. Н. Клышко, А. Н. Пенин
  УФН, 1985, 145:1, 147–149
• Оптическая бистабильность в полупроводниках
  В. С. Днепровский
  УФН, 1985, 145:1, 149–151
• Аномально малая диссипация электромагнитных волн в совершенных монокристаллах-диэлектриках
  Х. С. Багдасаров, В. Б. Брагинский, В. И. Панов, В. С. Ильченко
  УФН, 1985, 145:1, 151–153
• Электрон-магнонное взаимодействие в магнитных полупроводниках
  А. А. Самохвалов, В. В. Осипов
  УФН, 1985, 145:1, 153–155
• Сверхпроводимость узкозонных металлов и полупроводников и модель сверхпроводящего стекла
  И. О. Кулик
  УФН, 1985, 145:1, 156–157

Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles