|
Эта публикация цитируется в 38 научных статьях (всего в 38 статьях)
НОВЫЕ ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ
EXAFS-спектроскопия – новый метод структурных исследований
И. Б. Боровскийa, Р. В. Ведринскийb, В. Л. Крайзманb, В. П. Саченкоb a Институт физики твердого тела АН СССР, Черноголовка, Московская обл.
b Ростовский государственный университет иы. М. А. Суслова
Аннотация:
EXAFS-спектроскопия – новый метод исследования вещества, позволяющий определять структурные параметры ближнего окружения атомов с выбранным $\mathbf{Z}$, спектры которых изучаются. Среди этих параметров – межатомные расстояния, координационные числа, амплитуды тепловых колебаний. Существование дальнего порядка в исследуемых образцах не требуется. В зависимости от применяемой методики получения спектров можно анализировать ближнее окружение атомов, расположенных либо в объеме образца, либо на его поверхности. Рассмотрены физические явления, лежащие в основе метода, приемы математической обработки экспериментальных данных, различные варианты получения спектров. Приведен ряд примеров использования EXAFS-спектроскопии при исследовании суперионных проводников, соединений с переменной валентностью, биоорганических молекул, твердых растворов, катализаторов, поверхностных слоев, интеркалированных соединений. Табл. 3. Ил. 21. Библиогр. ссылок 168 (178 назв.).
Образец цитирования:
И. Б. Боровский, Р. В. Ведринский, В. Л. Крайзман, В. П. Саченко, “EXAFS-спектроскопия – новый метод структурных исследований”, УФН, 149:2 (1986), 275–324; Phys. Usp., 29:6 (1986), 539–569
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn8121 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v149/i2/p275
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 56 | PDF полного текста: | 35 |
|