|
Эта публикация цитируется в 14 научных статьях (всего в 14 статьях)
ОБЗОРЫ АКТУАЛЬНЫХ ПРОБЛЕМ
Электронная микроскопия атомного разрешения
Б. К. Вайнштейн Институт кристаллографии им. А. И. Шубникова АН СССР, г. Москва
Аннотация:
Современные просвечивающие электронные микроскопы имеют разрешение до 1,5–2 $\mathring{\mathrm{A}}$ что позволяет непосредственно наблюдать атомы. Изложена теория формирования электронно-микроскопического изображения атомного разрешения, влияние аберраций, свойства передаточной функции, методы обработки, расчета и интерпретации изображений. Рассмотрена связь электронной микроскопии и электронной дифракции. Приведены примеры электронно-микроскопических исследований атомной структуры различных объектов – молекул, кристаллов, различных органических и неорганических соединений, в том числе минералов, полупроводников, исследований дефектов кристаллической структуры и ее формирования при образовании кристаллов. Ил. 50. Библиогр. ссылок 113 (115 назв.).
Образец цитирования:
Б. К. Вайнштейн, “Электронная микроскопия атомного разрешения”, УФН, 152:1 (1987), 75–122; Phys. Usp., 30:5 (1987), 393–419
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn7940 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v152/i1/p75
|
|