|
Эта публикация цитируется в 13 научных статьях (всего в 13 статьях)
ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ
Спектрометры для мягкого рентгеновского диапазона на основе апериодических отражательных решёток и их применение
Е. Н. Рагозинa, Е. А. Вишняковa, А. О. Колесниковab, А. С. Пирожковc, А. Н. Шатохинa a Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва
b Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный
c Kansai Photon Science Institute (KPSI), National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST)
Аннотация:
Статья посвящена истории создания, свойствам, разработке, применению и перспективам развития VLS-спектрометров мягкого рентгеновского диапазона (2 – 300 Å), т.е. спектрометров с отражательными дифракционными решётками (так называемыми VLS-решётками—Varied Line-Space gratings), у которых шаг монотонно меняется на апертуре по заданному закону. Важная особенность VLS-спектрометров скользящего падения состоит в том, что спектр формируется на почти плоской поверхности, перпендикулярной
(либо слабо наклонной) по отношению к дифрагирующим пучкам, что делает их совместимыми с современными приборами с зарядовой связью (ПЗС-детекторами). VLS-спектрометры применяются для спектроскопии лабораторной и астрофизической плазмы, в том числе для диагностики релятивистской лазерной плазмы, для измерения ширины линии рентгеновского лазера, регистрации высоких гармоник лазерного излучения, излучения быстрых электрических разрядов и других лабораторных источников рентгеновского излучения. Приборы на основе VLS-решёток успешно применяются в рефлектометрии/метрологии, рентгеновском флуоресцентном анализе и
микроскопии с использованием синхротронного излучения, излучения лазеров на свободных электронах и излучения лазерной плазмы, а также в эмиссионной спектроскопии, совмещённой с электронным микроскопом. В последние годы активно идёт разработка специализированных VLS-спектрометров для исследования электронной структуры различных материалов и молекул методом спектроскопии резонансного неупругого рентгеновского рассеяния под действием синхротронного излучения. Тенденции последних лет — создание VLS-решёток с многослойным отражающим покрытием и расширение рабочего спектрального диапазона в сторону “нежных” рентгеновских лучей с энергией $\hbar\omega \sim$ 1,5–6 кэВ), причём в некоторых проектах ставится цель достичь разрешающей способности $\sim 10^5$ в диапазоне $\hbar\omega \sim$ 1 кэВ.
Поступила: 25 апреля 2020 г. Доработана: 27 июня 2020 г. Одобрена в печать: 29 июня 2020 г.
Образец цитирования:
Е. Н. Рагозин, Е. А. Вишняков, А. О. Колесников, А. С. Пирожков, А. Н. Шатохин, “Спектрометры для мягкого рентгеновского диапазона на основе апериодических отражательных решёток и их применение”, УФН, 191:5 (2021), 522–542; Phys. Usp., 64:5 (2021), 495–514
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn6816 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v191/i5/p522
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 132 | PDF полного текста: | 20 | Список литературы: | 15 | Первая страница: | 1 |
|