Успехи физических наук
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Скоро в журнале
Архив
Импакт-фактор
Правила для авторов
Загрузить рукопись

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



УФН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Успехи физических наук, 2021, том 191, номер 5, страницы 522–542
DOI: https://doi.org/10.3367/UFNr.2020.06.038799
(Mi ufn6816)
 

Эта публикация цитируется в 13 научных статьях (всего в 13 статьях)

ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ

Спектрометры для мягкого рентгеновского диапазона на основе апериодических отражательных решёток и их применение

Е. Н. Рагозинa, Е. А. Вишняковa, А. О. Колесниковab, А. С. Пирожковc, А. Н. Шатохинa

a Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва
b Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный
c Kansai Photon Science Institute (KPSI), National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST)
Список литературы:
Аннотация: Статья посвящена истории создания, свойствам, разработке, применению и перспективам развития VLS-спектрометров мягкого рентгеновского диапазона (2 – 300 Å), т.е. спектрометров с отражательными дифракционными решётками (так называемыми VLS-решётками—Varied Line-Space gratings), у которых шаг монотонно меняется на апертуре по заданному закону. Важная особенность VLS-спектрометров скользящего падения состоит в том, что спектр формируется на почти плоской поверхности, перпендикулярной (либо слабо наклонной) по отношению к дифрагирующим пучкам, что делает их совместимыми с современными приборами с зарядовой связью (ПЗС-детекторами). VLS-спектрометры применяются для спектроскопии лабораторной и астрофизической плазмы, в том числе для диагностики релятивистской лазерной плазмы, для измерения ширины линии рентгеновского лазера, регистрации высоких гармоник лазерного излучения, излучения быстрых электрических разрядов и других лабораторных источников рентгеновского излучения. Приборы на основе VLS-решёток успешно применяются в рефлектометрии/метрологии, рентгеновском флуоресцентном анализе и микроскопии с использованием синхротронного излучения, излучения лазеров на свободных электронах и излучения лазерной плазмы, а также в эмиссионной спектроскопии, совмещённой с электронным микроскопом. В последние годы активно идёт разработка специализированных VLS-спектрометров для исследования электронной структуры различных материалов и молекул методом спектроскопии резонансного неупругого рентгеновского рассеяния под действием синхротронного излучения. Тенденции последних лет — создание VLS-решёток с многослойным отражающим покрытием и расширение рабочего спектрального диапазона в сторону “нежных” рентгеновских лучей с энергией $\hbar\omega \sim$ 1,5–6 кэВ), причём в некоторых проектах ставится цель достичь разрешающей способности $\sim 10^5$ в диапазоне $\hbar\omega \sim$ 1 кэВ.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 19-12-50059
Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант №19-12-50059).
Поступила: 25 апреля 2020 г.
Доработана: 27 июня 2020 г.
Одобрена в печать: 29 июня 2020 г.
Англоязычная версия:
Physics–Uspekhi, 2021, Volume 64, Issue 5, Pages 495–514
DOI: https://doi.org/10.3367/UFNe.2020.06.038799
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 07.60.-j, 07.85.-m, 07.85.Fv, 07.85.Nc, 07.87.+v, 42.79.-e
Образец цитирования: Е. Н. Рагозин, Е. А. Вишняков, А. О. Колесников, А. С. Пирожков, А. Н. Шатохин, “Спектрометры для мягкого рентгеновского диапазона на основе апериодических отражательных решёток и их применение”, УФН, 191:5 (2021), 522–542; Phys. Usp., 64:5 (2021), 495–514
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{RagVisKol21}
\by Е.~Н.~Рагозин, Е.~А.~Вишняков, А.~О.~Колесников, А.~С.~Пирожков, А.~Н.~Шатохин
\paper Спектрометры для мягкого рентгеновского диапазона на основе апериодических отражательных решёток и их применение
\jour УФН
\yr 2021
\vol 191
\issue 5
\pages 522--542
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/ufn6816}
\crossref{https://doi.org/10.3367/UFNr.2020.06.038799}
\adsnasa{https://adsabs.harvard.edu/cgi-bin/bib_query?2021PhyU...64..495R}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=47026061}
\transl
\jour Phys. Usp.
\yr 2021
\vol 64
\issue 5
\pages 495--514
\crossref{https://doi.org/10.3367/UFNe.2020.06.038799}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000691278700004}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85112829433}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/ufn6816
  • https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v191/i5/p522
  • Эта публикация цитируется в следующих 13 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Успехи физических наук Physics-Uspekhi
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:135
    PDF полного текста:20
    Список литературы:15
    Первая страница:1
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024