|
Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)
КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ
Электронные свойства топологических изоляторов. Структура краевых состояний и фотогальванические эффекты
С. А. Тарасенко Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Внесение идей топологии и топологических переходов в физику твёрдого тела привело к теоретическому предсказанию и последующему экспериментальному открытию топологических изоляторов — нового класса диэлектрических трёхмерных или квазидвумерных кристаллических систем, имеющих устойчивые проводящие поверхностные состояния. Представлен краткий обзор электронных свойств топологических изоляторов. Более подробно описана структура краевых и объёмных электронных состояний в двумерных и трёхмерных топологических изоляторах на основе соединения HgTe. Представлены результаты теоретического и экспериментального исследования взаимодействия электромагнитного поля с топологическими изоляторами, краевых и поверхностных фотогальванических эффектов.
Поступила: 16 апреля 2018 г. Одобрена в печать: 29 ноября 2017 г.
Образец цитирования:
С. А. Тарасенко, “Электронные свойства топологических изоляторов. Структура краевых состояний и фотогальванические эффекты”, УФН, 188:10 (2018), 1129–1134; Phys. Usp., 61:10 (2018), 1026–1030
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn6177 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v188/i10/p1129
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 335 | PDF полного текста: | 68 | Список литературы: | 24 | Первая страница: | 13 |
|