|
Эта публикация цитируется в 22 научных статьях (всего в 22 статьях)
ОБЗОРЫ АКТУАЛЬНЫХ ПРОБЛЕМ
Высокоразрешающая рентгеновская дифракция в кристаллических структурах с квантовыми точками
В. И. Пунегов Коми научный центр УрО РАН
Аннотация:
Представлено современное состояние неразрушающих исследований полупроводниковых структур с квантовыми точками (КТ) в рамках метода высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии. С позиций формализма статистической теории дифракции рассмотрено когерентное и диффузное рассеяние рентгеновских лучей в кристаллических системах с нановключениями. Продемонстрировано влияние формы, упругих деформаций, латеральной и вертикальной корреляции КТ на угловое распределение диффузного рассеяния вблизи узла обратной решётки. На примере короткопериодных и многокомпонентных сверхрешёток с КТ показана эффективность модельного подхода для количественного анализа наноструктурированных материалов с использованием экспериментальных данных.
Поступила: 9 января 2015 г. Доработана: 8 февраля 2015 г. Одобрена в печать: 10 февраля 2015 г.
Образец цитирования:
В. И. Пунегов, “Высокоразрешающая рентгеновская дифракция в кристаллических структурах с квантовыми точками”, УФН, 185:5 (2015), 449–478; Phys. Usp., 58:5 (2015), 419–445
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn5194 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v185/i5/p449
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 308 | PDF полного текста: | 118 | Список литературы: | 22 |
|