|
Эта публикация цитируется в 76 научных статьях (всего в 76 статьях)
ИЗ ТЕКУЩЕЙ ЛИТЕРАТУРЫ
Критический размер в сегнетоэлектрических наноструктурах
В. М. Фридкин Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН
Аннотация:
В последнее время предпринимается попытка определения критического размера в сегнетоэлектричестве. Этот фундаментальный вопрос в связи с развитием сегнетоэлектрических наноструктур стал актуальным и в прикладном отношении. Показано, что, несмотря на предсказанное теорией существование конечного критического размера, по крайней мере, в сегнетоэлектрических пленках Ленгмюра–Блоджетт, приготовленных из сополимера винилиденфторида–трифторэтилена P[VDF – TrFE], сегнетоэлектрическая поляризация и ее переключение наблюдаются в одном монослое. Приводится краткий обзор работ по поиску критического размера в перовскитовых сегнетоэлектриках. Показано, что теория Ландау–Гинзбурга предсказывает сколь угодно малый критический размер, если учесть несобственный эффект, связанный с деформациями несоответствия на границе пленка–электрод (“mismatch” эффект). Сверхтонкие сегнетоэлектрические пленки могут обладать особенностями в динамике переключения.
Поступила: 21 июля 2005 г. Доработана: 9 октября 2005 г.
Образец цитирования:
В. М. Фридкин, “Критический размер в сегнетоэлектрических наноструктурах”, УФН, 176:2 (2006), 203–212; Phys. Usp., 49:2 (2006), 193–202
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn278 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v176/i2/p203
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 803 | PDF полного текста: | 172 | Список литературы: | 88 | Первая страница: | 1 |
|