Многопараметрическая кристаллография на основе многообразности картины многократного рассеяния брэгговских и диффузных волн (метод стоячих диффузных волн)

Излагаются основы созданного авторами нового поколения кристаллографии, названного диффузно-динамической многопараметрической дифрактометрией (ДДМД). Обсуждаются результаты обобщения теоретического и экспериментального обоснований метода стоячих (брэгговских) волн в идеальных кристаллах, которые выполнены в классической работе М.В. Ковальчука и В.Г. Кона “Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов” [УФН 149 69 (1986)], для случая кристаллов с дефектами, в которых кроме стоячих брэгговских волн возникают стоячие диффузные волны. Эти волны обусловливают зависимости от условий дифракции характера влияния дефектов на динамическую картину рассеяния, т.е. новое явление, которое выражается в многообразности диффузно-динамической картины, принципиально отсутствующей при кинематическом рассеянии. В результате открывается возможность, целенаправленно изменяя условия дифракции, управлять перестройкой брэгговских и диффузных волновых (от бегущих до стоячих) полей и, следовательно, изменять характер их взаимодействия с кристаллами и за счёт этого экспериментально получать необходимое число различных картин рассеяния, комбинированная компьютерная обработка которых позволяет решить проблему однозначной многопараметрической диагностики. Рассматриваются теоретические и экспериментальные основы, а также результаты практического применения ДДМД.