|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута
В. С. Эдельман Институт физических проблем им. П. Л. Капицы РАН
Образец цитирования:
В. С. Эдельман, “Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута”, УФН, 175:10 (2005), 1111–1115; Phys. Usp., 48:10 (2005), 1057–1061
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn236 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v175/i10/p1111
|
|