Безапертурная ближнепольная микроскопия упругого рассеяния света

В настоящем обзоре отражены успехи, достигнутые в последние годы с помощью безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), работающего в режиме упругого рассеяния света (sSNOM). Рассмотрены принципы работы прибора, технические приёмы, искажения и шумы, характерные для методики sSNOM, теоретические модели, используемые в методике. Получили развитие методы детектирования воздействия зондирующего поля на образец под иглой (например, термическое расширение), появилось заметное число исследований в терагерцевом или СВЧ-диапазоне. Развивается успех в материал-контрастном изображении поверхности, ведутся спектроскопические исследования областей поверхности нанометровых размеров. Приведены достижения в изображении бегущих и стоячих плазмон- и фонон-поляритонных волн над поверхностью твёрдого тела и над двумерными объектами, в том числе ван-дер-ваальсовыми материалами и графеном. Обнаружена гибридизация плазмонных поверхностных волн за счёт взаимодействия носителей заряда в тонком 2D-объекте с носителями в подложке. Пространственное разрешение прибора (1 – 20 нм) за последние 5–8 лет практически не изменилось.