|
КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ
Зондирование динамических зарядовых состояний с помощью одноэлектронных туннельных транзисторов
В. А. Крупенинa, С. В. Лотховa, Х. Шерерb, А. Б. Зоринb, Ф. Й. Алерсb, Й. Нимайерb, Х. Вольфb a Лаборатория крио-
электроники, Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова
b Physikalisch-Technische Bundesanstalt
Поступила: 31 декабря 1998 г.
Образец цитирования:
В. А. Крупенин, С. В. Лотхов, Х. Шерер, А. Б. Зорин, Ф. Й. Алерс, Й. Нимайер, Х. Вольф, “Зондирование динамических зарядовых состояний с помощью одноэлектронных туннельных транзисторов”, УФН, 168:2 (1998), 219–222; Phys. Usp., 41:2 (1998), 204–206
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn1444 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v168/i2/p219
|
|